1024, 2048 등의 다양한 용량의 회로 검사 시스템 구성이 가능하며, 최대 8192 points의 시스템 구성

LED Guide System을 활용하여 회로 검사 상황을 홀더별 LED에 표시

검사 시간 : 3072 points 기준 1 sec 이내로 빠른 검사 가능

검사 결과의 Database화 및 전송, 보관 가능

설계변경에 대한 대응이 빠르고 편리하며, 검사판의 공용화 가능

검사판 핀 접촉 상태 모니터링 시스템 내장

구조검사 프로그램을 활용하여, Wire Harness에 설치된 부품(클립, 프로텍트, 하우징, 그루멧 등)의 누락과 설치 위치의 정확성 검사 가능